|
|||||||||||||||||
|
|
|
|||||||||||||||||||||||||
|
||||||||||||||||||||||||||
| 電鍍膜厚測(cè)試儀配備了半導(dǎo)體接收器適合測(cè)量薄到數(shù)NM的鍍層，F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY XDVM測(cè)厚儀，還能測(cè)量出范圍從元素氯（Z＝13）至鈾（Z ＝92）。主要應(yīng)用于線路板測(cè)試、極細(xì)的鉛框一片片的掃描（指定面積），如：硬盤鍍層、細(xì)微的線。有極高精度，可編程的XYZ測(cè)量臺(tái)及大移動(dòng)范圍，測(cè)量室為長(zhǎng)方形內(nèi)槽設(shè)計(jì)，容許放入大面積的物件進(jìn)行測(cè)量。 電鍍膜厚測(cè)試儀可變焦距控制功能和固定焦距控制功能 計(jì)算機(jī)系統(tǒng)配置 戴爾計(jì)算機(jī) 分析應(yīng)用軟件 操作系統(tǒng)：Windows2000中文平臺(tái) 分析軟件包：SmartLink FP軟件包 －測(cè)厚范圍 可測(cè)定厚度范圍：取決于您的具體應(yīng)用。 －基本分析功能 采用基本參數(shù)法校正。根據(jù)您的應(yīng)用提供必要的校正用標(biāo)準(zhǔn)樣品。 樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量) 可檢測(cè)元素范圍：CL17 – U92 電鍍膜厚測(cè)試儀的應(yīng)用范圍 :1、分析電子部品電鍍層的厚度 2、各類五金電鍍件的鍍層厚度管控分析 3、各鍍層的成分比例分析。 | ||||||||||||||||||||||||||
|
||||||||||||||||||||||||||
|
||||||||||||||||||||||||||
|
||||||||||||||||||||||||||
|
||||||||||||||||||||||||||
|
|